Yazarlar minnetle XRPD ölçümler yapmak için Bayan Christine Stefani kabul. Marian Schuch ve Rebekka Kuiter (Sanat ve Tasarım Stuttgart Devlet Akademisi) karo (Şek. 7) resimleri için kabul edilmiştir.

1. Numune Hazırlama <ol><li> Malzemenin toplanması <ol><li> Dikkatle Rosgartenmuseum Konstanz (RMK-1964,79) (koleksiyonuna ait, tarihi bir toka opak mavi-yeşil cabochons ayarlarından bir neşter ve cımbız kullanarak bir dijital mikroskop altında numunenin 1 küçük bir miktar (en az 1 mg) almak Şekil 6). </li><li> Dikkatle 41 x 29 x 3,5 cm boyutlarında ve Landesmuseum Württemberg koleksiyon parçası ile (Southern Almanya&#39;da üretilen Erken Modern zamanlarda, kalma, bir sırlı seramik karo yüzeyinden bir neşter ile numunenin 2 birkaç mg çizilmeye hayır. E 3004) (Şekil 7). Not: karo, ahşap dolaplar 2004 yılına kadar 1980&#39;lerden itibaren saklandı. Arka tarafı ağır bir faz olarak saf ürünü (Şekil 7B) olarak ortaya çıkan thecotrichite çiçeklenmeyi uğrar. </li></ol></li><li> Örnek tutucu hazırlanması <ol><li> her ikisi s taşlamaKüçük bir akik havanda havan eli ile dikkatlice amples. </li><li> iki ince X-ışını geçiren polimid folyolar arasında, birkaç aglomere taneler (&lt;1 mg) oluşur örnek 1, dağıtma ve 8 mm çapında bir merkezi açıklık içeren bir iletim numune tutucu montajını. difraktometresi θ daire iletim numune tutucu sabitleyin. </li><li> 0.5 mm çapında bir borosilikat cam kapiller örnek 2 (yakl. 5 mg) doldurun. <ol><li> Bunu yapmak için, bir spatula kullanılarak kılcal hunisi içine tozun küçük bir miktar. Sonra bir elektrik vibratör yardımıyla kılcal ucuna toz aşağı hareket ettirin. kalın duvarlı cam tüp içinde kılcal koyarak tozu sıkıştırmak ve masanın üzerinde elle hafifçe vurun. </li><li> yaklaşık 3 cm&#39;lik bir dolum yüksekliği elde edilene kadar devam edin. ince korindon bıçağı kullanılarak yaklaşık 4 cm bir yükseklikte en dikkatli bir şekilde bir cam kılcal kesin ve açık kullanılarak açık ucu mühür. </li><li> bir miktar koyunBir pirinç pim açılışında balmumu ve bir havya kullanarak eritebilir. Ardından erimiş mum içinde kılcal yerleştirin ve katılaşma kadar dik tutun. Bir goniometer kafasına pirinç pimini takın ve difraktometresi θ-daireyi goniometer kafasını düzeltin. </li><li> Son olarak, bir haç ile üst üste bir dijital kamera projeksiyon tarafından desteklenen bir anahtarla manuel iteratif goniometer kafasının dört serbestlik derecesi (XY çeviri aşamalarını kullanarak eğilme slaytları ve iki çeviriler kullanarak iki rotasyonlar) hizalayarak monte kılcal merkezi. </li></ol></li></ol></li></ol> 2. Veri Toplama <ol><li> (1 radyasyonu a Cu K primer ışın Johann tipi Ge (111) monokromatörü ile) yüksek çözünürlüklü toz kırınım ölçer kullanımı oda sıcaklığında örnek 1 (Şekil 8) ve 2 (Şekil 9) laboratuar XRPD desenleri için hangi doğrusal bir pozisyon duyarlı si ile donatılmıştıryaklaşık 12 ° 2θ bir açıklık ile LICON şeridi dedektörü. <ol><li> iletim modunda 0.015 ° 2θ bir adım genişliğinde 5-85 ° 2θ aralığında 20 saat örnek 1 ölçün (Tarama modu: İletim; Tarama tipi: 2ThetaOmega; Omega modu: Moving; PSD Modu: Hareketli). Daha iyi parçacık istatistiklerini elde etmek için üzerine rotasyon açın. </li><li> Debye-Scherrer modunda 0.015 ° &#39;lik bir adım büyüklüğü ile 2θ aralığı 5-60 ° kapsayan 6 saat süreyle kayıt örneği 2 (Tarama modu: Debye Scherrer; Tarama türü: 2Teta; Omega modu: Sabit; PSD Modu: ) taşıma. Daha iyi parçacık istatistiklerini elde etmek için üzerine rotasyon açın. </li></ol></li></ol> 3. Kristal Yapı Tayini ve Arıtma Not: örnek 1 ve 2&#39;nin kristal yapılarının belirlenmesi ve arıtma için, kompleks bir bilgisayar programı 11 kullanılır. Ya bir grafiksel kullanıcı arabirimi veya metin tabanlı giriş dosyası tarafından çalıştırılans. sofistike bir betik dili ikinci markası kullanımı. Örnek 1 kullanarak yapısal analizin farklı aşamalarında örnek girdi dosyaları Tablo S1, S2, S4-S8 listelenmiştir. Genel prosedür Örnek 2 için de aynıdır. <ol><li> tepe arama <ol><li> Bragg yansımaları yarısı maksimum 1-1.5 kat tam genişliği sırasına bükülü aralığını ayarlayarak üreticinin protokole göre düşük sipariş (Şekil 10) Savitzky-Golay polinomları birinci ve ikinci türevleri kullanarak otomatik zirve arama yapın (numune 1 0.12 ° 2 θ), (numune 1 için 1.74) 1.5-2 kat tahmini standart sapması gürültü eşiğini ayarlama ve açıkça ayırt zirveleri göstermek toz desenleri bu bölümü için arama sınırlayıcı (5-66 ° arka yukarıdaki örnek 1) için 2θ. <ol><li> çift ​​tıklayarak simgesi ile programı başlatın. Tarama Dosyalarını Yük tıklayın. Çekaçılan menüden XY veri dosyaları (* .xy) seçin. 1-GNM-4145-P4-Kapton.xy çift tıklayın. </li><li> Aralığı 1-GNM-4145-P4-Kapton.xy genişletin. Yük Emisyon profili | | CuK1sharp.lam Emisyon profilini tıklatın. </li><li> Doruklarına eklemek otomatik düğmesine tıklayın. Unclick K-alfa 2 Tepeler çıkarın. 0.12 kaydırma çubuğu ile Tepe Genişliği ayarlayın. 1.74 Kaydırma çubuğunu Gürültü Eşik ayarlayın. Düğmesine basın Peaks ekleyin. Basın kapatın. </li></ol></li><li> otomatik Açıkçası istatistiklerini sayma ve tanınabilir, ancak diğer zirveleri kuyrukları gizli olan zirveleri ekleyerek nedeniyle olmayan Bragg zirveleri silerek zirveleri tespit elle insan gözü ve doğru bir entegre özelliğini kullanın. s kullanarak her bir numune için 30 ila 40 yansımaların setleri ile indeksleme dosyalarını kurmaktandard ayarlar ancak tüm kristal sistemleri (Tablo S1) tanır. <ol><li> , Desen fare ile yakınlaştırma kaydırmak için fare tekerleğini kullanın. F3 tuşuna basarak Açık Tepe Detayları penceresi. farenin sol tuşuna basarak doruklarına ayarlayın. F9 tuşuna basarak doruklarına silin. Kapat Tepe Ayrıntıları penceresi. </li><li> Peaks Faz tıklayın. Pozisyon tıklayarak sarı Tümünü işaretle zirveleri. sarı Sol tıklama sütunu işaretlenmiş. Dizin aralığı oluştur | Copy all / seçimi tıklatın. Aralığı 1-GNM-4145-P4-Kapton.xy kaldırın. Seç aralık Dizin. Tüm Bravais kafesleri seçin (listesini vurgulayın ve bir onay işareti ayarlamak için kullanın tıklayın). </li></ol></li></ol></li><li> indeksleme <ol><li> Indeksleme için algoritma 12 &quot;tekil değer ayrışımı iteratif kullanımını&quot; (uygulamak <strong&gt; numune 1 ilkel bir dörtgen birim hücre ve örnek 2 (birim hücre parametreleri için bakınız Tablo 1) için ilkel bir monoklinik kafes bulana kadar Tablo S2). <ol><li> Basın Çalıştır düğmesine (F6). Evet tuşuna basın indeksleme çözümleri tutmak için. Basın Çözümleri düğmesine basın. Sol tuşa 1 tıklayarak ilk çözüm vurgulayın. Sağ vurgulanan (sarı) çözümü tıklayın. Copy all / seçimi tıklatın. Aralık Endekslemeyi kaldırın. Seç aralık 1-GNM-4145-P4-Kapton.xy. Not: liyakat tüm yüksek rakam gösteren diğer birim hücreleri Tablo 1&#39;de belirtilen olanlara kıyasla birden çok birim ama gözlenmeyen yansımaları yüksek numaraları var program otomatik olarak P 4 olduğu görülmektedir yansıma yok oluşların dayalı en olası uzay grupları göstermektedir. örnek 1 ve P 2, 1 / a 2 / n (86) </em&gt; Örnek 2 (Şekil 11). </li></ol></li><li> El Kristalografi Cilt A 13 (Tablo S3) Uluslararası Tabloları kullanan yok oluşların arayarak bu bulguları doğrulamaktadır. Örnek 2 için örnek 1 ve Z = 4, Z = 8, ortalama hacim katları, birim hücre başına formül birimleri sayısını tahmin. </li></ol></li><li> Uydurma Tüm toz modeli <ol><li> Montaj hem de toz desenleri Pawley 14&#39;e göre bütün toz modelinin gerçekleştirin. Zirve profilleri açıklaması için temel parametre (FP) yaklaşımı 15 (Şekil 12) kullanın. Yüksek mertebeden dik Chebychev polinomları (genellikle 8) ve düşük kırılma açılarında hava saçılmasını açıklayan ek 1 / X terimle arka plan Model. Cu-K α 1 radi kullanarak Ge için Bragg açısı olan 27.3 (111) monokromatör Lorenz-Polarizasyon faktörünü ayarlamaktirme. Tablo S4 ilgili tüm giriş parametrelerini içerir. <ol><li> Basın hkl Faz ekleyin. Aralığı 1-GNM-4145-P4-Kapton.xy genişletin. Hkl_Phase genişletin. Yapıştır Dizin ayrıntıları | Dizin Ayrıntıları tıklayın. Background tıklayın. 8 (rafine) için sırasını değiştirme. 1 / X BKG (rafine) işaretleyin. </li><li> Enstrüman tıklayın. 217.5 İlköğretim yarıçapı (mm) olarak ayarlayın. 217.5 Sekonder yarıçapı (mm) olarak ayarlayın. Nokta dedektörü işaretleyin. Yarık Genişliği 0.1 (düzeltme) değeri alma işaretleyin. Tam Eksenel Modeli işaretleyin. Set Kaynak uzunluğu (mm) 6 (düzeltme) için. Set Numune uzunluğu (mm) 6 (düzeltme) için. Set RS uzunluğu (mm) 6 (düzeltme) için. </li><li> tıklayınDüzeltmeler. Sıfır hata, 0 (rafine) değerini işaretleyin. Kene LP faktörü, 27.3 (düzeltme) değer. Çeşitli tıklayın. Dönş ayarlayın. 2 Adımlar. Kene Başlat X değeri 8. Kene Finish X değeri 75. tıklayın Peaks Faz | Evet | Peaks Phase silin. </li><li> Mikroyapısal | hkl_Phase tıklayın. Kene Cry Boyut L 200 (rafine) değer. Kene Cry Boyut G 200 (rafine) değer. Kene Gerginlik L, 0.1 (rafine) değer. Kene Gerginlik G, 0.1 (rafine) değer. Basın Çalıştır düğmesine (F6). </li></ol></li><li> Bragg listesi için uygun zirveleri oluşturŞarj 6 çevirme. Hkl_Phase tıklayın. Şarj-çevirme çıkışı tıklayın. CF, değer CF.A için bir dosyayı işaretleyin. CF için hkl dosya, değer CF.hkl işaretleyin. Basın Çalıştır düğmesine (F6). INP Dosyaya ver | menü Dosya aşağı çekin. Dosya adı, değer Pawley.INP. Kaydet tuşuna basın. Not: Ardışık yapı tayini için, sabit tüm enstrüman, zirve şekil ve kafes parametreleri tutun. </li></ol></li><li> Kristal yapı tayini Not: (yinelemeli bir şekilde kullanılabilir), üç yöntemlerin bir kombinasyonu örnek 1 ve 2&#39;nin kristal yapılarını tespit etmek için kullanılır. <ol><li> İlk olarak, ağır atomlu en konumlarını bulmak için teğet Formül 16 (Şekil 13) dahil edilmesi ile desteklenen şarj saygısız 6&#39;daki gibi bir yöntem kullanınız. gözlenen ref silile lections A d-mesafesinde (örnek 1) &#39;den küçük 1.28 ve 0.9 arasında bir d-aralığı için hesaplanan küre uzanır. Gerekli tüm parametreler Tablo S5 listelenmiştir. Ortaya çıkan listeden tanınabilir elektron yoğunluğu, elle karbon, oksijen veya azot gibi benzer saçılma gücünün doğru yanlış atanan atom türleri ile atomları seçin. <ol><li> Tümünü Kapat - Evet tıklayarak onaylayın | Dosya Dosya aşağı çekin. Başlat Başlat aşağı çekin | Çekirdeği başlatın. </li><li> Set INP Dosya | Başlat Başlat aşağı çekin. (Tablo S5 listelenen hazırlanan girdi metin dosyası) seçin CF.INP. Açık tıklayarak onaylayın. R tuşuna basın un düğmesine (F6). STOP düğmesine yakl (F8). 20.000 çevrimleri. Şarj Evet basarak bitmiş saygısız onaylayın. </li><li> Basın Geçici çıktız-matris biçiminde düğme seçilen atomları görüntüleyen pencere. Basın Bulut seçenekleri düğmesine iletişim. 45 almak için N ayarlayın. Simetri ile işaretleyin. Düğmesine basın seçin. Geçici çıktıyı kopyalayıp FirstGuess.str adlı bir metin dosyasına kaydedin. Grafik penceresini saygısız şarjı kapatın. </li></ol></li><li> İkinci olarak, tüm eksik hidrojen olmayan atomu (format / asetat gruplarının esas olarak C-atomu) konumlarını bulmak için tavlama benzetimi 7,17 (Şekil 14) global optimizasyon yöntemi uygulanır. yazılım tarafından sağlanan otomatik tavlama şemasını kullanın. Ölçek faktörü ve pozisyonel ve / veya tavlama benzetimi seçilen atomların mesleki parametreleri Konu sadece. Numune 1, özel konumlarını (Tablo S6) tespit etmek 1.1 Å bir yarıçap içinde sodyum ve oksijen atomları birleştirme. <ol><li> Başlat Başlat aşağı çekin </strong&gt; | INP Dosya ayarlayın. (Tablo S6 listelenen hazırlanan girdi metin dosyası) seçin SA.INP. Açık tıklayarak onaylayın. Basın Çalıştır düğmesine (F6). Bin birkaç turdan sonra STOP düğmesine basın (F8). Evet tuşuna basarak Güncelle girdi dosyası onaylayın. </li></ol></li><li> Üçüncü olarak, simüle tavlama kapatın ve komut Auto_T (0.1) yorum oluşturma Rietveld 5 arıtma moduna geçin. tüm doğruladı konumsal parametreleri düzeltmek. Fark-Fourier haritası (F obs -F hesaplanan) hesaplanmasını ekleyin (Şekil 15, Tablo S7) hesaplanamayan elektron yoğunluğu kontrol etmek için. atom listesinde ayrıca bulundu atomları ve atom konumları ve doluluk rafine. <ol><li> Set INP Dosya | Başlat Başlat aşağı çekin. Fourier_search_for_C.INP seçin (hazırlananTablo S7 listelenen giriş metin dosyası). Açık tıklayarak onaylayın. Basın Çalıştır düğmesine (F6). neredeyse tam kristal yapıya ve fark Fourier haritası görüntüleyen iki grafik çıkış pencereleri kontrol edin. Not: yinelemeli Döngüsü üç yapı çözme yöntemleri kesintisi durumunda. Gerekirse, ışık atomu (karbon ve oksijen atomları) anti darbeleme kısıtlamaları uygulamak (Tablo S7 bakınız). </li></ol></li></ol></li><li> Rietveld arıtma <ol><li> Örnek 1 ve 2&#39;ye nihai kristal yapı tasfiye için, Rietveld tam model geliştirme Metot 5 (Şekil 16) kullanır. Numunenin 2 asetik asit ve nitrat gruplarındaki atomların anlamsız atom vardiya önlemek sözde yumuşak kısıtlamaları idealize bağ uzunlukları ve açıları dayalı (diğer adıyla başlıkları) istihdam etmek üzere. Standart yazılım bil kullanarak eksik hidrojen atomlarının idealize konumlarını hesaplamak18 (Tablo S8) vardır. </li><li> her bir kristal yapısına sahip, hidrojen atomu izotropik atom değiştirme parametreleri iyileştirmek. numune iki model halinde simetri dahil ederek mikroboya neden Bragg yansımaları genişliği belirgin anizotropi ikinci düzenin küresel harmonikleri uyarlanmış. </li><li> Nihayet numune 1 (Şekil 17) ve numune 2 kristal yapıları (Şekil 18) ve tam kantitatif faz analizi için kullanılabilir bundan iki kristalografik bilgi dosyaları (CIFS) projeksiyonlar araziler oluşturun. Bu tam nicel analizinin bir örneği örnek 1 kristal yapısı kullanılarak, Şekil 19&#39;da verilmiştir. </li></ol></li></ol>

<ol>
	<li>Bradley, S. M. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=.">.</a> The interface between science and conservation, Occacional Paper 116. , (1997).</li><li>Dinnebier, R. E., Billinge, S. J. L. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=.">.</a> Powder Diffraction:Theory and Practice. , (2008).</li><li>Debye, P., Scherrer, P. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Interferenzen+an+regellos+orientierten+Teilchen+im+Roentgenlicht.">Interferenzen an regellos orientierten Teilchen im Roentgenlicht.</a> Phys. Zeit. 17, 277-283 (1916).</li><li>Hull, A. W. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=A+New+Method+of+X-Ray+Crystal+Analysis.">A New Method of X-Ray Crystal Analysis.</a> Phys. Rev. 10 (6), 661-696 (1917).</li><li>Rietveld, H. M. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=A+profile+refinement+method+for+nuclear+and+magnetic+structures.">A profile refinement method for nuclear and magnetic structures.</a> J. Appl. Cryst. 2, 65-71 (1969).</li><li>Oszlanyi, G., Suto, A. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Ab+initio+structure+solution+by+charge+flipping.">Ab initio structure solution by charge flipping.</a> Acta Crystallogr. Sect. A. 60 (2), 134-141 (2004).</li><li>Newsam, J. M., Deem, M. W., Freeman, C. M., Prince, E., Stalick, J. K. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Direct+Space+Methods+of+Structure+Solution+from+Powder+Diffraction+Data.">Direct Space Methods of Structure Solution from Powder Diffraction Data.</a> NIST Special Publication 864: Accuracy in Powder Diffraction II: Proceedings of the International Conference May 26-29, 1992. , 80-91 (1992).</li><li>Dinnebier, R. E., Run&#269;evski, T., Fischer, A., Eggert, G. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Solid-State+Structure+of+a+Degradation+Product+Frequently+Observed+on+Historic+Metal+Objects.">Solid-State Structure of a Degradation Product Frequently Observed on Historic Metal Objects.</a> Inorg. Chem. 54 (6), 2638-2642 (2015).</li><li>Wahlberg, N., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Crystal+Structure+of+Thecotrichite,+an+Efflorescent+Salt+on+Calcareous+Objects+Stored+in+Wooden+Cabinets.">Crystal Structure of Thecotrichite, an Efflorescent Salt on Calcareous Objects Stored in Wooden Cabinets.</a> Cryst. Growth Des. 15 (6), 2795-2800 (2015).</li><li>Eggert, G., Fischer, A. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Gef&#228;hrliche+Nachbarschaft:+Durch+Glas+induzierte+Metallkorrosion+an+Museums-Exponaten+-+Das+GIMME-Projekt.">Gef&#228;hrliche Nachbarschaft: Durch Glas induzierte Metallkorrosion an Museums-Exponaten - Das GIMME-Projekt.</a> Restauro. 1, 38-43 (2012).</li><li>. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=.">.</a> TOPAS (current version 5.0). , (2015).</li><li>Coelho, A. A. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Indexing+of+powder+diffraction+patterns+by+iterative+use+of+singular+value+decomposition.">Indexing of powder diffraction patterns by iterative use of singular value decomposition.</a> J. Appl. Crystallogr. 36 (1), 86-95 (2003).</li><li>. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=.">.</a> International Tables for Crystallography Volume A: Space-group symmetry. , (2006).</li><li>Pawley, G. S. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Unit-cell+refinement+from+powder+diffraction+scans.">Unit-cell refinement from powder diffraction scans.</a> J. Appl. Crystallogr. 14, 357-361 (1981).</li><li>Cheary, R. W., Coelho, A. A., Cline, J. P. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Fundamental+Parameters+Line+Profile+Fitting+in+Laboratory+Diffractometers.">Fundamental Parameters Line Profile Fitting in Laboratory Diffractometers.</a> J. Res. Natl. Inst. Stand. Technol. 109 (1), 1-25 (2004).</li><li>Karle, J., Hauptman, H. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=A+theory+of+phase+determination+for+the+four+types+of+non-centrosymmetric+space+groups+1P222,+2P22,+3P12,+3P22.">A theory of phase determination for the four types of non-centrosymmetric space groups 1P222, 2P22, 3P12, 3P22.</a> Acta Crystallogr. 9, 635-651 (1956).</li><li>Coelho, A. A. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Whole-profile+structure+solution+from+powder+diffraction+data+using+simulated+annealing.">Whole-profile structure solution from powder diffraction data using simulated annealing.</a> J. Appl. Crystallogr. 33 (3), 899-908 (2000).</li><li>Macrae, C. F., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Mercury:+visualization+and+analysis+of+crystal+structures.">Mercury: visualization and analysis of crystal structures.</a> J. Appl. Crystallogr. 39 (3), 453-457 (2006).</li><li>Mittemeijer, E. J., Welzel, U. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=.">.</a> Modern Diffraction Methods. , (2012).</li></ol>

The authors have nothing to disclose.

XRPD is a suitable technique for conservation research as it is non-destructive, fast and easy-to-use. XRPD data can be used in routine qualitative analysis, owing to the fact that the powder pattern is a fingerprint signature to the corresponding crystal structure. The biggest advantage of XRPD over other analytic techniques is the ability of performing simultaneous qualitative and quantitative analysis of crystalline constituents in mixtures by using the Rietveld refinement method5. Moreover, the presence of...

Koruma bilim eserler korunması bilimsel (genellikle kimyasal) yöntemlerini uygular. Bu eserler, üretim araştırmaları içeren (teknik sanat tarihi &#39;:? Nasıldı o anda yapılan) uygun koruma tedaviler geliştirmek için bir ön koşul olarak bunların bozunma yollarının. Çoğu kez bu çalışmalar karbonatlar, formatlar ve asetatlar gibi metal organik tuzlar ile anlaşma. Bazıları kasıtlı olarak uygun bileşiklerin (örneğin, sirke) kullanılarak imal edilmiştir, diğerleri atmosfer (iç mekan hava kirliliğinden karbon dioksit veya karbonil bileşikleri) ile bozulma reaksiyonlarının türetmek 1. Nitekim olarak, bu korozyon malzemelerin birçoğu kristal yapıları hala bilinmemektedir. geometrik yapısı bilgisi daha iyi üretim ve çürüme reaksiyonları anlamak ve karışımlar halinde tam kantitatif analiz için izin vermek için koruma bilimi yardımcı beri bu talihsiz bir gerçektir. Söz konusu olan malzeme, yeterli büyüklükte ve kalite tek kristaller oluşturur koşuluyla, tek kristal kırınım kristal yapısının belirlenmesi için tercih edilen bir yöntemdir. Bu sınır şartları yerine getirilmediği takdirde, toz difraksiyon yakın alternatiftir. Tek kristal kırınım kıyasla toz kırınım en büyük dezavantajı karşılıklı d -vector d * (saçılma vektör) ve yönelim bilgi kaybına yatıyor. Diğer bir deyişle, tek bir kırılma nokta yoğunluğu, bir kürenin yüzeyi üzerine sürülür. Bu toz deseninin bir boyutlu 2θ ekseni üzerinde üç boyutlu kırılma (= karşılıklı) alanı içinde bir çıkıntı kabul edilebilir. Bunun bir sonucu olarak, farklı bir doğrultuda değil aynı veya benzer uzunluktaki vektörleri saçılma (sistemik olarak veya yanlışlıkla zor ya da bu yansımaları 2 ayrı hatta imkansız hale F üst üsteŞekil 1). Bu da temel nedeni toz saçılması, ilk tek kristal deney 3,4, özellikle daha yarım yüzyılı aşkın bir faz tanımlama ve miktar tayini için kullanılan sadece dört yıl sonra erken buluş rağmen. Kolayca Şekil 2&#39;den çıkarılabilir Yine de, bir toz deseni bilgi içeriği çok büyük. Gerçek bir meydan okuma, ancak, rutin bir şekilde mümkün olduğunca fazla bilgi ortaya koymaktır. Hiç şüphesiz bu hedef doğrultusunda önemli bir adım, toz kırınım verilerinden kristal yapı arıtma için yerel optimizasyon tekniği icat 1969 5 Hugo Rietveld gelen fikriydi. yöntem tek yoğunluklarda ama böylece, artan karmaşıklık dikkate özünde zirve örtüşme alarak bir model karşı tüm toz deseni rafine değil. O zamandan beri, toz kırınım tekniklerini kullanarak bilim adamları artık veri analizi b sınırlıy yöntemler tek kristal soruşturma geliştirdi. Birkaç yıl Rietveld yöntemi icadından sonra, ab-initio yapı belirlemeleri için toz difraksiyon yöntemi güç tanındı. yöntemi hala rutin olarak kabul edilemez olsa da günümüzde, fen bilimleri ve mühendislik kullanımı toz kırınım hemen hemen tüm dalları, daha karmaşık kristal yapılarını belirlemek için. Son on yıl içinde, laboratuarda toz diffraktometreler yeni nesil, yüksek çözünürlük, yüksek enerji ve yüksek yoğunluk sağlayan tasarlanmıştır. yüksek enerjiler emilimini mücadele ederken daha iyi çözünürlük hemen daha iyi pik ayırma yol açar. Temel fizik parametrelere dayalı daha iyi bir zirve profil açıklaması (Şekil 3) yararı daha detaylı yapısal soruşturma için izin Bragg yansıması daha doğru şiddetleri vardır. etki alanı boyutları ve microstra gibi modern ekipman ve yazılım ile, hatta mikro parametrelerrutin toz kırınım verilerinden saptanır. toz kırınım verilerinden kristal yapı tayini için tüm algoritmalar tek tepe noktası yoğunluklarını, tüm toz desen veya her ikisinin bir kombinasyonunu kullanabilirsiniz. Geleneksel tek kristal karşılıklı uzay teknikleri genellikle nedeniyle mevcut gözlem ve yapısal parametreler arasında olumsuz bir oran başarısız. Bu durum, &quot;ücret saygısız&quot; tekniği 6 (Şekil 4) ve tavlama benzetimi tekniği 7 (Şekil 5) en belirgin temsilcisi olan doğrudan uzayda, küresel optimizasyon yöntemlerinin geliştirilmesi tanıtımıyla önemli ölçüde değişti. Özellikle, yapı tayinleri sürecine kimyasal bilginin giriş katı organları veya bağ uzunluklarını ilişkin moleküler bileşiklerin bilinen bağlantısını kullanarak ve şiddetle gerekli parametrelerin sayısını azaltır açıları. Diğer bir deyişle, inher atomun üç konumsal parametrelerin stead, atomların grupları özgürlüğü sadece dış (ve iç az) dereceleri tespit edilmesi gerekir. Bu toz yöntemi tek kristal analizi gerçek bir alternatif yapar yapısal karmaşıklık bu azaltılmasıdır. Yazarların 8,9 İki öncü vaka çalışmaları toz difraksiyon verileri kullanılarak karmaşık korozyon ürünlerinin karmaşık kristal yapılarını çözmek mümkün olduğunu kanıtladı. diğer yöntemlere göre kristalografik çalışmalar üstünlüğü her iki durumda da bildirilen formüller çözüldü kristal yapıları dikkate alındıktan sonra düzeltilmesi gerekiyordu aslında diğerleri arasında gösterildi. müzelerde soruşturması kapsamında her iki malzemenin oluşumu ahşap dolapları kendi depolama ile ilgili ya da karbonil kirleticilerin diğer kaynaklardan maruz kalmaktadır. Soruşturma kapsamında ilk madde sodyum bakır format hidroksit oksit hidra oldute, Cu 4 Na 4 Ey müze koleksiyonlarında soda cam / bakır alaşımlı kompozit tarihi nesnelerin (örneğin, mine) üzerinde oluşan (HCOO) 8 (OH) 2 ∙ 4H 2 O (örnek 1), formaldehid ve formik aside maruz vb ahşap depolama dolapları, yapıştırıcılar, gelen. Bu bozulma fenomen son zamanlarda &quot;cam kaynaklı metal korozyonu&quot; 10 olarak karakterize edilmiştir. İkinci vaka çalışması, thecotrichite, Ca 3 (CH 3 COO) 3 Cl (NO 3) 2 ∙ 6H 2 O (örnek 2) için seçildi. Thecotrichite meşe dolapları ve görünen durumlarda depolanan çini ve kireçtaşı müze nesneleri üzerinde needlelike kristalitlerini oluşturan sık görülen olgunlaşan tuzudur. Bu durumda, odun artefaktı çözünür klorür ve nitrat tuzları ile reaksiyona giren asetik asit kaynağı olarak görev yapar. metin, yapı d bireysel adımlar aşağıdaki bölümündekoruma bilimi korozyon ürünlere uygulanan etermination işlem kullanılarak toz difraksiyon verileri detaylı bir şekilde sunulmuştur.

<table><tbody><tr><td>Stadi-P&amp;nbsp;</td><td>Stoe &amp;amp; Cie GmbH</td><td></td><td>Powder Diffractometer</td></tr><tr><td>Mythen 1-K (450 &amp;mu;m)</td><td>Dectris Ltd.</td><td></td><td>Position Sensitive Detector</td></tr><tr><td>Mark tube borosilicate glass No. 50, 0.5 mm diameter</td><td>Hilgenberg GmbH</td><td>4007605</td><td>Low absorbing capillaries</td></tr><tr><td>Topas 5.0</td><td>Bruker AXS Advanced X-ray Solutions GmbH</td><td></td><td>Powder Diffraction Evaluation Software</td></tr></tbody></table>

x-ray powder diffraction in conservation science: towards routine crystal structure determination of corrosion products on heritage art objects

Kristal yapı tayini ve laboratuar yüksek çözünürlüklü X-ışını toz kırınım (XRPD) kullanılarak tarihi sanat objeleri korozyon ürünlerinin arıtma işlemi iki vaka çalışmaları aracılığıyla detaylı olarak sunulmuştur. Soruşturma kapsamında ilk madde sodyum, bakır format hidroksit oksit hidrat, Cu 4 Na 4 O (HCOO) 8 (OH) 2 ∙ 4H 2 O (örnek 1) soda cam / bakır alaşımlı kompozit tarihi nesnelere oluşturan (örneğin, mine) idi müze koleksiyonlarında yer, formaldehit vb Bu bozulma fenomen son zamanlarda &quot;cam kaynaklı metal korozyonu&quot; olarak karakterize edilmiştir ahşap depolama dolapları, yapıştırıcılar, yayılan formik aside maruz. İkinci durumda çalışma için, thecotrichite, Ca 3 (CH3COO) 3 Cl (NO 3) 2 ∙ 6H 2 O (Numune 2), bir olgunlaşan olan seçildiahşap dolapları ve görünen durumlarda depolanan çini ve kireçtaşı nesneler üzerinde needlelike kristalitlerini oluşturan tuz. Bu durumda, ahşap artefaktı veya çevresinden çözünen klorit ve nitrat tuzları ile reaksiyona giren asetik asit kaynağı olarak görev yapar. geometrik yapısı bilgisi daha iyi üretim ve çürüme reaksiyonları anlamak ve karışımları sık durumda tam kantitatif analiz için izin vermek için koruma bilimi yardımcı olur.

Yüksek çözünürlüklü XRPD tarihi nesnelerin iki uzun zamandır bilinen aşınma ürünlerinin daha önce bilinmeyen kristal yapılarını belirlemek için kullanılmıştır. Onlar iletim ve kılcal örnek tutucular mühürlü önce numuneler dikkatle öğütülmüş iki müze nesneleri alınmış ve (Şekil 6, 7). Iletim ve monokrom X-ışınları kullanılarak Debye-Scherrer geometri sanat laboratuvarı yüksek çözünürlüklü toz difraktometresi bir devlet ku...

Watch this Scientific Journal Video about X-ray Powder Diffraction in Conservation Science: Towards Routine Crystal Structure Determination of Corrosion Products on Heritage Art Objects at JoVE.com

X-ray Powder Diffraction in Conservation Science: Towards Routine Crystal Structure Determination of Corrosion Products on Heritage Art Objects

Modern high resolution X-ray powder diffraction (XRPD) in the laboratory is used as an efficient tool to determine crystal structures of long-known corrosion products on historic objects.

Koruma Bilimi X-ışını Toz Kırınım: Miras Sanat Objects Korozyon Ürünleri Rutin Kristal Yapı Tayini Doğru

The crystal structure determination and refinement process of corrosion products on historic art objects using laboratory high-resolution X-ray powder ...

x-ray-powder-diffraction-conservation-science-towards-routine-crystal

Universidad de Cartagena UDEC

Research

JoVE Journal

Chemistry

15.8K Görüntüleme.  Max-Planck-Institute for Solid State Research. Modern high resolution X-ray powder diffraction (XRPD) in the laboratory is used as an efficient tool to determine crystal structures of long-known corrosion products on historic objects.

Video: X-ray Powder Diffraction in Conservation Science: Towards Routine Crystal Structure Determination of Corrosion Products on Heritage Art Objects

Synthesis and Microdiffraction at Extreme Pressures and Temperatures

High pressure compounds and polymorphs are investigated for a broad range of purposes such as determine structures and processes of deep planetary interiors, design materials with novel properties, understand the mechanical behavior of materials exposed to very high stresses as in explosions or impacts. Synthesis and structural analysis of materials at extreme conditions of pressure and temperature entails remarkable technical challenges. In the laser heated diamond anvil cell (LH-DAC), very high pressure is generated between the tips of two opposing diamond anvils forced against each other; focused infrared laser beams, shined through the diamonds, allow to reach very high temperatures on samples absorbing the laser radiation. When the LH-DAC is installed in a synchrotron beamline that provides extremely brilliant x-ray radiation, the structure of materials under extreme conditions can be probed in situ. LH-DAC samples, although very small, can show highly variable grain size, phase and chemical composition. In order to obtain the high resolution structural analysis and the most comprehensive characterization of a sample, we collect diffraction data in 2D grids and combine powder, single crystal and multigrain diffraction techniques. Representative results obtained in the synthesis of a new iron oxide, Fe4O5 1 will be shown.

The laser heated diamond anvil cell combined with synchrotron micro-diffraction techniques allows researchers to explore the nature and properties of new phases of matter at extreme pressure and temperature (PT) conditions. Heterogeneous samples can be characterized in situ under high pressure by 2D mapping and combined powder, single-crystal and multigrain diffraction approaches.

Aşırı basınç ve Sıcaklıklarda sentezi ve mikrodifraksiyon

High pressure compounds and polymorphs are investigated for a broad range of purposes such as determine structures and processes of deep planetary ...

Mühendislik

High Pressure Single Crystal Diffraction at PX^2

In this report we describe detailed procedures for carrying out single crystal X-ray diffraction experiments with a diamond anvil cell (DAC) at the GSECARS 13-BM-C beamline at the Advanced Photon Source. The DAC program at 13-BM-C is part of the Partnership for Extreme Xtallography (PX^2) project. BX-90 type DACs with conical-type diamond anvils and backing plates are recommended for these experiments. The sample chamber should be loaded with noble gas to maintain a hydrostatic pressure environment. The sample is aligned to the rotation center of the diffraction goniometer. The MARCCD area detector is calibrated with a powder diffraction pattern from LaB6. The sample diffraction peaks are analyzed with the ATREX software program, and are then indexed with the RSV software program. RSV is used to refine the UB matrix of the single crystal, and with this information and the peak prediction function, more diffraction peaks can be located. Representative single crystal diffraction data from an omphacite (Ca0.51Na0.48)(Mg0.44Al0.44Fe2+0.14Fe3+0.02)Si2O6 sample were collected. Analysis of the data gave a monoclinic lattice with P2/n space group at 0.35 GPa, and the lattice parameters were found to be: a = 9.496 &#177;0.006 &#197;, b = 8.761 &#177;0.004 &#197;, c = 5.248 &#177;0.001 &#197;, &#946; = 105.06 &#177;0.03&#186;, &#945; = &#947; = 90&#186;.

In this report, we describe detailed procedures for carrying out single crystal X-ray diffraction experiments with a diamond anvil cell at the GSECARS 13-BM-C beamline at the Advanced Photon Source. ATREX and RSV programs are used to analyze the data.

Yüksek Basınçlı PX de Tek Kristal Kırınımı ^ 2

In this report we describe detailed procedures for carrying out single crystal X-ray diffraction experiments with a diamond anvil cell (DAC) at the ...

Kimya

Reliable Mechanochemistry: Protocols for Reproducible Outcomes of Neat and Liquid Assisted Ball-mill Grinding Experiments

The equilibrium outcomes of ball mill grinding can dramatically change as a function of even tiny variations in the experimental conditions such as the presence of very small amounts of added solvent. To reproducibly and accurately capture this sensitivity, the experimentalist needs to carefully consider every single factor that can affect the ball mill grinding reaction under investigation, from ensuring the grinding jars are clean and dry before use, to accurately adding the stoichiometry of the starting materials, to validating that the delivery of solvent volume is accurate, to ensuring that the interaction between the solvent and the powder is well understood and, if necessary, a specific soaking time is added to the procedure. Preliminary kinetic studies are essential to determine the necessary milling time to achieve equilibrium. Only then can exquisite phase composition curves be obtained as a function of the solvent concentration under ball mill liquid assisted grinding (LAG). By using strict and careful procedures analogous to the ones here presented, such milling equilibrium curves can be obtained for virtually all milling systems. The system we use to demonstrate these procedures is a disulfide exchange reaction starting from the equimolar mixture of two homodimers to obtain at equilibrium quantitative heterodimer. The latter is formed by ball mill grinding as two different polymorphs, Form A and Form B. The ratio R = [Form B] / ([Form A] + [Form B]) at milling equilibrium depends on the nature and concentration of the solvent in the milling jar.

We present detailed procedures to produce experimental equilibrium curves of the phase composition as a function of solvent concentration in a solid state system under milling conditions.

Güvenilir Mechanochemistry: Protokolleri temiz ve sıvı tekrarlanabilir sonuçlar için Top-değirmen öğütme deneyler destekli.

The equilibrium outcomes of ball mill grinding can dramatically change as a function of even tiny variations in the experimental conditions such as the ...

Synchrotron X-ray Microdiffraction and Fluorescence Imaging of Mineral and Rock Samples

In this report, we describe a detailed procedure for acquiring and processing&#160;x-ray microfluorescence (&#956;XRF), and Laue and powder microdiffraction two-dimensional (2D) maps at beamline 12.3.2 of the Advanced Light Source (ALS), Lawrence Berkeley National Laboratory. Measurements can be performed on any sample that is less than 10 cm x 10 cm x 5 cm, with a flat exposed surface. The experimental geometry is calibrated using standard materials (elemental standards for XRF, and crystalline samples such as Si, quartz, or Al2O3 for diffraction). Samples are aligned to the focal point of the x-ray microbeam, and raster scans are performed, where each pixel of a map corresponds to one measurement, e.g., one XRF spectrum or one diffraction pattern. The data are then processed using the in-house developed software XMAS, which outputs text files, where each row corresponds to a pixel position. Representative data from moissanite and an olive snail shell are presented to demonstrate data quality, collection, and analysis strategies.

We describe a beamline setup meant to carry out rapid two-dimensional x-ray fluorescence and x-ray microdiffraction mapping of single crystal or powder samples using either Laue (polychromatic radiation) or powder (monochromatic radiation) diffraction. The resulting maps give information about strain, orientation, phase distribution, and plastic deformation.

Sinkrotron x-ışını Microdiffraction ve Mineral ve kaya örneklerini floresans görüntüleme

In this report, we describe a detailed procedure for acquiring and processing&#160;x-ray microfluorescence (&#956;XRF), and Laue and powder ...

Imaging Corrosion at the Metal-Paint Interface Using Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

Corrosion developed at the paint and aluminum (Al) metal-paint interface of an aluminum alloy is analyzed using time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS), illustrating that SIMS is a suitable technique to study the chemical distribution at a metal-paint interface. The painted Al alloy coupons are immersed in a salt solution or exposed to air only. SIMS provides chemical mapping and 2D molecular imaging of the interface, allowing direct visualization of the morphology of the corrosion products formed at the metal-paint interface and mapping of the chemical after corrosion occurs. The experimental procedure of this method is presented to provide technical details to facilitate similar research and highlight pitfalls that may be encountered during such experiments.

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry is applied to demonstrate the chemical mapping and corrosion morphology at the metal-paint interface of an aluminum alloy after being exposed to a salt solution compared with a specimen exposed to air.

Uçuş süresi Ikincil Iyon kütle spektrometresi kullanılarak metal-Paint arayüzünde görüntüleme korozyon

Corrosion developed at the paint and aluminum (Al) metal-paint interface of an aluminum alloy is analyzed using time-of-flight secondary ion mass ...

Fosfonat Bazlı MOF'ların Sentezi ve Keşfi: Solvotermal Bir Yaklaşım

Discovery and Synthesis Optimization of Isoreticular Al(III) Phosphonate-Based Metal-Organic Framework Compounds Using High-Throughput Methods

High-throughput (HT) methods are an important tool for the fast and efficient screening of synthesis parameters and the discovery of new materials. This manuscript describes the synthesis of metal-organic frameworks (MOFs) from solution using an HT reactor system, resulting in the discovery of various phosphonate-based MOFs of the composition [Al2H12-x(PMP)3]Clx&#8729;6H2O (H4PMP = N,N &#39;-piperazine bis(methylenephosphonic acid)) for x = 4, 6, denoted as Al-CAU-60-xHCl, containing trivalent aluminum ions. This was accomplished under solvothermal reaction conditions by systematically screening the impact of the molar ratio of the linker to the metal and the pH of the reaction mixture on the product formation. The protocol for the HT investigation includes six steps: a) synthesis planning (DOE = design of&#160;experiment) within the HT methodology, b) dosing and working with in-house developed HT reactors, c) solvothermal synthesis, d) synthesis workup using in-house developed filtration blocks, e) characterization by HT powder X-ray diffraction, and f) evaluation of the data. The HT methodology was first used to study the influence of acidity on the product formation, leading to the discovery of Al-CAU-60&#8729;xHCl (x = 4 or 6).

Yazar Spotlight: Mikro Gözenekli Malzeme Kimyasında Keşfi Hızlandırma 

The targeted synthesis of new metal-organic frameworks (MOFs) is difficult, and their discovery depends on the knowledge and creativity of the chemist. High-throughput methods allow complex synthetic parameter fields to be explored quickly and efficiently, accelerating the process of finding crystalline compounds and identifying synthetic and structural trends.

İzoretiküler Al(III) Fosfonat Bazlı Metal-Organik Çerçeve Bileşiklerinin Yüksek Verimli Yöntemler Kullanılarak Keşfi ve Sentez Optimizasyonu

High-throughput (HT) methods are an important tool for the fast and efficient screening of synthesis parameters and the discovery of new materials. This ...

X-ray Diffraction

Source: Faisal Alamgir, School of Materials Science and Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA
X-ray diffraction (XRD) is a technique used in materials science for determining the atomic and molecular structure of a material. This is done by irradiating a sample of the material with incident X-rays and then measuring the intensities and scattering angles of the X-rays that are scattered by the material. The intensity of the scattered X-rays are plotted as a function of the scattering angle, and the structure of the material is determined from the analysis of the location, in angle, and the intensities of scattered intensity peaks. Beyond being able to measure the average positions of the atoms in the crystal, information on how the actual structure deviates from the ideal one, resulting for example from internal stress or from defects, can be determined.
The diffraction of the X-rays, that is central to the XRD method, is a subset of the general X-ray scattering phenomena. XRD, which is generally used to mean can wide-angle X-ray diffraction (WAXD), falls under several methods that use the elastically scattered X-ray waves. Other elastic scattering based X-ray techniques include small angle X-ray scattering (SAXS), where the X-rays are incident on the sample over the small angular range of 0.1-100 typically). SAXS measures structural correlations of the scale of several nanometers or larger (such as crystal superstructures), and X-ray reflectivity that measures the thickness, roughness, and density of thin films. WAXD covers an angular range beyond 100.

X-Ray Diffraction for Determining Atomic and Molecular Structure

Source: Faisal Alamgir, School of Materials Science and Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA
X-ray diffraction (XRD) is a technique ...

Education

JoVE Science Education

Malzeme Mühendisliği

X-ray Fluorescence (XRF)

Source: Laboratory of Dr. Lydia Finney &#8212; Argonne National Laboratory
X-ray fluorescence is an induced, emitted radiation that can be used to generate spectroscopic information. X-ray fluorescence microscopy is a non-destructive imaging technique that uses the induced fluorescence emission of metals to identify and quantify their spatial distribution.

Koruma Bilimi X-ışını Toz Kırınım: Miras Sanat Objects Korozyon Ürünleri Rutin Kristal Yapı Tayini Doğru

Özet

Daha Fazla Video Keşfet

Bu videodaki bölümler

Aşırı basınç ve Sıcaklıklarda sentezi ve mikrodifraksiyon

Yüksek Basınçlı PX de Tek Kristal Kırınımı ^ 2

Güvenilir Mechanochemistry: Protokolleri temiz ve sıvı tekrarlanabilir sonuçlar için Top-değirmen öğütme deneyler destekli.

Sinkrotron x-ışını Microdiffraction ve Mineral ve kaya örneklerini floresans görüntüleme

Uçuş süresi Ikincil Iyon kütle spektrometresi kullanılarak metal-Paint arayüzünde görüntüleme korozyon

İzoretiküler Al(III) Fosfonat Bazlı Metal-Organik Çerçeve Bileşiklerinin Yüksek Verimli Yöntemler Kullanılarak Keşfi ve Sentez Optimizasyonu

İzoretiküler Al(III) Fosfonat Bazlı Metal-Organik Çerçeve Bileşiklerinin Yüksek Verimli Yöntemler Kullanılarak Keşfi ve Sentez Optimizasyonu

İzoretiküler Al(III) Fosfonat Bazlı Metal-Organik Çerçeve Bileşiklerinin Yüksek Verimli Yöntemler Kullanılarak Keşfi ve Sentez Optimizasyonu

X-ray Diffraction

X-ray Fluorescence (XRF)