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June 2nd, 2017

DOI :

10.3791/55735-v

June 2nd, 2017


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Capitoli in questo video

0:05

Title

6:50

Conclusion

5:52

Results: In Situ Electromechanical Characterization of a Single-crystal Copper Specimen

0:45

Microfabrication of Silicon Frames

2:13

Laser Patterning of Metal Copper Specimens

3:38

Microdevice-based Electromechanical Testing Systems (MEMTS) Assembly

4:38

In Situ Transmission Electron Microscopy (TEM) Experiments

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