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硅金属 - 氧化物 - 半导体量子点单电子泵

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14:58 min

June 3rd, 2015

DOI :

10.3791/52852-v

June 3rd, 2015


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Title

3:11

Creation of the Field Oxide Layer, Ohmic Contacts, and the Gate Oxide

7:10

Gate Patterning

9:20

Device Integrity Tests

10:57

Results: Device Integrity Test Results and Millikelvin Measurements

12:13

Conclusion

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