В Situ передачи электронной микроскопии с смещения и изготовление асимметричных перекладин на основе смешанных фаз -VOх
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.
4.0K Views
•
09:49 min
•
May 13th, 2020
DOI :
May 13th, 2020
•Смотреть дополнительные видео
Главы в этом видео
0:04
Introduction
0:52
Fabrication Process and Electrical Characterization
2:33
Biasing Chip Mounting on Gridbar
3:14
Lamella Preparation and Biasing Chip Mounting
6:50
In Situ Transmission Electron Microscopy (TEM)
7:42
Results: Representative In Situ Electrical TEM
9:04
Conclusion
Похожие видео
11:44
Real-Time DC-динамичный Смещение Метод коммутации Улучшение времени в строго Underdamped окантовкой поля электростатических MEMS приводов
10.3K Views
07:50
Электрон Ченнелинг Контрастность изображений для быстрого III-V гетероэпитаксиального Характеристика
10.9K Views
07:15
Новый метод для
9.1K Views
11:45
Экспериментальные методы для захвата ионов с помощью Microfabricated поверхности ловушки иона
13.5K Views
10:28
Проверка структуры и динамики межфазного воды с сканирование туннелирования микроскопии и спектроскопии
8.7K Views
08:31
Sample Preparation and Experimental Design for In Situ Multi-Beam Transmission Electron Microscopy Irradiation Experiments
1.6K Views
Magnetic Field Mapping using Off-Axis Electron Holography in the Transmission Electron Microscope
2.3K Views
09:53
Микроструктурирование просвечивающих электронных микроскопических сеток для прямого позиционирования клеток в рабочих процессах криоэлектронной томографии цельноклеточной криоэлектронной томографии
6.5K Views
05:33
Светоиндуцированная электронная микроскопия in situ transmission для наблюдения взаимодействия жидкости и мягкой материи
2.1K Views
08:04
Подготовка и наблюдение Толстые биологических образцов с помощью сканирующего трансмиссионной электронной томографии
9.2K Views
Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены