Анализ контактных интерфейсов для одиноких GaN нанопроволоки устройств
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.
9.3K Views
•
11:13 min
•
November 15th, 2013
DOI :
November 15th, 2013
•Главы в этом видео
0:05
Title
1:32
Wafer Preparation
3:14
Photolithography of Contact Pattern
6:29
Contact Metal Lift-off and Annealing
7:38
Ni/Au Film Removal
9:04
Results: Annealed Ni/Au Films Removed with Carbon Tape
10:45
Conclusion
4:55
Electron-beam Evaporation of Contact Metals
Похожие видео
09:45
Монослоя Связаться легирования кремния поверхностей и нанопроволок Использование фосфорорганических соединений
7.6K Views
08:29
Тепловые методы измерения в аналитической микрофлюидных устройств
9.6K Views
08:58
Без косточек Рост Висмут Nanowire массив с помощью вакуумного термического испарения
8.3K Views
04:54
Растворитель Связующие для изготовления ПММА и КС микрожидком устройств
16.1K Views
06:55
Методика сканирования сканирующего рассеивателя света (SLPS) для количественной оценки рассеяния вперед и назад с помощью интраокулярных линз
7.5K Views
09:14
При содействии потока диэлектрофореза: Низкая стоимость метод для изготовления высокой производительности решения обрабатываемых нанопроволоки устройств
7.6K Views
11:21
Атмосферное давление изготовление большого размера однослойная прямоугольной SnSe хлопьев
8.1K Views
09:54
Изготовление приборов рефракционной соответствует индекс для биомедицинских микрофлюидика
7.4K Views
09:01
Изготовление Robust Nanoscale Контакт между Серебряный Nanowire Электрод и CdS буфер слоя в Cu (In,Ga)Se2 Тонкопленочные солнечные клетки
6.2K Views
00:05
Крэк Мониторинг в резонанс усталости Тестирование сварных образцов с использованием цифровой корреляции изображения
8.1K Views
Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены