Entrar

Preparação de nanopartículas para Análise ToF-SIMS e XPS

7.8K Views

06:24 min

September 13th, 2020

DOI :

10.3791/61758-v

September 13th, 2020


Explore mais vídeos

Qu mica

Capítulos neste vídeo

0:05

Introduction

0:45

Nanoparticle Suspension Preparation, Drop-Dry Deposition, and Spin Coating Deposition

2:24

Nanoparticle Powder Deposition

3:15

Nanoparticle Suspension Cryofixation

4:06

Results: Representative Nanoparticle Preparation for Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Analysis

5:41

Conclusion

Vídeos relacionados

article

10:22

In situ SIMS e IR Espectroscopia de Superfícies bem definidos preparados pela Soft Landing de Íons Mass-selecionados

18.1K Views

article

10:00

Tomografia de raios-X de energia dispersiva para 3D Elemental Mapeamento de nanopartículas individuais

11.7K Views

article

08:12

Geração de valência zero Metal Core nanopartículas utilizando N- (2-aminoetil) -3-aminosilanetriol

7.6K Views

article

09:48

In Situ Caracterização de Proteínas hidratadas em água por SALVI e TOF-SIMS

8.2K Views

article

08:04

Híbrido multifuncional Fe

13.6K Views

article

09:15

Síntese de CDs Nanopartículas sem ligando dentro de uma matriz de copolímero de Enxofre

9.4K Views

article

10:27

A evolução de sílica Coatings nanopartículas-poliéster em superfícies expostas à luz solar

9.5K Views

article

14:53

In Situ Deteção e única célula quantificação de nanopartículas de óxido de Metal usando análise de microsonda Nuclear

7.0K Views

article

11:49

Um reator de fluxo contínuo fotocatalítico para a deposição controlada precisamente de nanopartículas metálicas

9.7K Views

article

07:24

Corrosão por imagem na interface metal-Paint usando espectrometria de massa de íons secundários de tempo de voo

8.2K Views

JoVE Logo

Privacidade

Termos de uso

Políticas

Pesquisa

Educação

SOBRE A JoVE

Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. Todos os direitos reservados