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MEMS 검사 및 특성화를위한 소형 렌즈가없는 디지털 홀로그램 현미경

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10:28 min

July 5th, 2016

DOI :

10.3791/53630-v

July 5th, 2016


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113

이 비디오의 챕터

0:05

Title

1:05

Preparations

3:52

Data Acquisition

5:38

Data Analysis for Static Measurements

6:40

Sample Preparation and Data Analysis for Dynamic Measurements

7:42

Results: CDHM Compared to Atomic Force Microscopy and Other Results

9:17

Conclusion

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