원자 방출 분광법(AES)의 계측에는 표본을 기상 원자 및 이온으로 변환하는 원자화 장치를 포함한 다양한 구성 요소가 포함됩니다. 분무 장치에는 연속식 분무기와 개별 분무기의 두 가지 주요 유형이 있습니다. 플라즈마 및 화염과 같은 연속 분무기는 일정한 흐름으로 시료를 주입하는 반면, 개별 분무기는 주사기나 자동 시료 주입기를 사용하여 개별 시료를 주입합니다. 가장 일반적인 개별 분무기는 전열 분무기입니다.
분무화는 표본을 에어로졸 형태로 도입하는 과정입니다. 분무기는 액체 표본에서 작은 물방울을 생성하여 효율적인 원자화를 가능하게 합니다. 일단 원자화되면 불꽃이나 플라즈마의 표본은 원자, 분자 및 이온의 정상 상태 집단을 형성합니다. 그런 다음 플라즈마로부터의 방출은 단색기, 다색기 또는 분광기와 같은 파장 분리 장치를 사용하여 구성 파장으로 분리됩니다. 격리된 방사선은 변환기 또는 배열 감지기에 의해 전기 신호로 변환된 후 컴퓨터 시스템에 의해 처리 및 분석됩니다.
유도 결합 플라즈마(ICP) 방출 시스템은 화염 대신 아르곤 플라즈마 토치라고 불리는 고온 플라즈마를 사용합니다. 이를 통해 더 넓은 적용 범위와 신속한 다중 요소 분석이 가능해졌습니다. 직류 플라즈마 소스(DCP)에서는 불활성 가스의 가열이 DC 아크를 통해 이루어지며, 플라즈마는 고속 가스 흐름으로 형성됩니다. DCP 설계는 일반적으로 아르곤 흐름의 교차점에 여기 영역이 있는 역 V자형 전극 조립체를 사용하며 이 지점에 표본을 주입하기 위해 분무기를 사용합니다.
다양한 방출선을 순차적으로 스캔하는 순차 분광계와 다중 파장을 동시에 측정하기 위해 다색화기 또는 분광기를 사용하는 동시 분광계를 포함하여 다중 원소 측정에 다양한 장비를 사용할 수 있습니다. 원자 방출 분광계 장비는 순차 파장 측정을 위한 단색광 장치가 있는 순차 광학 경로와 다중 방출선의 동시 측정을 위한 다중 출구 슬릿 및 광전관이 있는 동시 직접 판독 다색 장치를 포함하여 다양한 광학 경로 옵션을 제공합니다.
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