13.5 : ספקטרוסקופיה IR ו-UV–Vis של חומצות קרבוקסיליות

בספקטרוסקופיה IR של חומצות קרבוקסיליות, הקשר C=O מראה פס אופייני בין 1710 ל-1760 ס"מ⁻¹, והקשר O-H מציג פס רחב בין 2500 ל-3300 ס"מ⁻¹.

עם זאת, ספיגות המתח עבור הקשר C=O משתנות בהתאם למבנה של חומצות קרבוקסיליות. הקשר C=O של החומצות הקרבוקסיליות החופשיות מראה תדר מתיחה גבוה יותר, 1760 ס"מ-1, בעוד שחומצות קרבוקסיליות הקשורות ל-H (דימרים) מציגות ספיגות מתח בתדירות נמוכה יותר, 1710 ס"מ-1. הקשר C=O של החומצות הקרבוקסיליות האליפטיות והארומטיות המצומדות מראה תדירות מתח נמוכה עוד יותר ב-1690 cm−1.

בספקטרום IR של חומצות קרבוקסיליות, ספיגות המתח של קשרי C–H ו-O–H חופפות ומציגות ספיגה בסביבות 3000 cm−1, עם פסגות C–H חדות ושיא O–H רחב. חומצות קרבוקסיליות רבות מציגות גם עליות קטנות וחדות או shoulder bands בין 2500 ל 2700 ס"מ-1.

ספקטרוסקופיה UV-vis של החומצות הקרבוקסיליות מראה פס חלש באורך גל נמוך יותר של 200-215 ננומטר עקב מעבר n→π∗. עם זאת, בחומצות קרבוקסיליות מצומדות מאוד, המעבר n→π∗ עובר לאורך גל גבוה יותר עם ספיגה מולרית גבוהה יותר.