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電子チャネリング強化マイクロ分析による結晶材料における機能的ドーパント/点欠陥の定量的原子部位解析

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May 10th, 2021

DOI :

10.3791/62015-v

May 10th, 2021


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0:04

Introduction

0:59

Transmission Electron Microscopy (TEM) Alignment for Beam-Rocking

2:36

Incident Beam Collimation and Pivot Point Setup

3:47

Electron-Channeling Pattern (ECP) Acquisition

4:30

Energy-Dispersive X-Ray Analysis

5:10

Results: Representative ECP and ICP Emission Imaging

6:46

Conclusion

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