Lumière amélioré la passivation de l'acide fluorhydrique: une technique sensible pour détecter des défauts de silicium massif
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January 4th, 2016
DOI :
January 4th, 2016
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0:05
Title
1:02
Cleaning and Etching the Silicon Wafers
4:08
Silicon Wafer Passivation and Photoconductive (PC) Measurement
7:08
Results: Silicon Wafer Photoconductive Measurement after Surface Passivation
8:10
Conclusion
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