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El efecto de los parámetros de anodización en la capa dieléctrica de óxido de aluminio de transistores de película delgada

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12:32 min

May 24th, 2020

DOI :

10.3791/60798-v

May 24th, 2020


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0:00

Introduction

2:48

Preparation of the Electrolytic Solution

3:55

Substrate Cleaning

5:24

Al Gate Electrode Evaporation

6:31

Anodization of the Al Layer

7:41

ZnO Active Layer Deposition

8:38

Drain and Source Electrodes Deposition

9:36

TFT Electrical Characterization

10:09

Results

11:22

Conclusion

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